半導體器件可靠性測試所需要用到的環(huán)境試驗設備（JW-2008D）

半導體產(chǎn)業(yè)分類(lèi)

1、半導體產(chǎn)業(yè)

應用于計算機、服務(wù)器、手機、有線(xiàn)通信、消費電子、汽車(chē)電子等諸多領(lǐng)域的核心部位?？煞譃槟M電路、微處理器、邏輯電路和存儲器四大類(lèi)。

2、分立器件

主要包括晶體二極管、三極管、整流二極管、功率二極管、化合物二極管等。分立器件被廣泛應用在家電、綠色照明、計算機、汽車(chē)電子、網(wǎng)絡(luò )通訊、工業(yè)控制等產(chǎn)品。

3、光電器件

主要是利用光、電轉換效應所制成的各種功能器件，可分為光器件、受光器件、光復合器件等 ，包括LED、OLEO、光伏太陽(yáng)能等。

4、傳感器

可分為物理傳感器、化學(xué)傳感器、生物傳感器等。主要應用于工業(yè)自動(dòng)化、工業(yè)機器人、生物工程等領(lǐng)域。

可靠性試驗等級分類(lèi)

Region (I) 被稱(chēng)為早夭期（Infancy period）

這個(gè)階段產(chǎn)品的 failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC設計和生產(chǎn)過(guò)程中的缺陷；

Region (II) 被稱(chēng)為使用期（Useful life period）

在這個(gè)階段產(chǎn)品的failure rate保持穩定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；

Region (III) 被稱(chēng)為磨耗期（Wear-Out period）

在這個(gè)階段failure rate 會(huì )快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長(cháng)期使用所造成的老化等。