JW-5003D半導體器件可靠性測試所需要用到的環(huán)境試驗設備

半導體器件可靠性測試所需要用到的環(huán)境試驗設備JW-5003D

三槽式冷熱沖擊箱JW-5000系列

用于測試材料結構或復合材料,在瞬間經(jīng)溫度以及極低溫的連續環(huán)境下所能忍受的程度，最短時(shí)間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

●高低溫循環(huán)可達1000次，不結霜，溫度恢復時(shí)間小于5分鐘，轉換時(shí)間小于10秒。

●三箱式結構，樣品不需移動(dòng)，易于測試線(xiàn)纜連接，可自由切換兩溫和三溫模式。

●試件放置在固定的測試室內,不會(huì )隨提籃移動(dòng),相對靜止，無(wú)任何機械沖擊。

●采用彩色觸摸屏控制,界面友好,具有參數記錄功能，Error信息實(shí)時(shí)顯示,輕松排除故障。

●流體力學(xué)仿真精密計算，變頻技術(shù)與產(chǎn)品工藝制造技術(shù)有效降低能耗。

技術(shù)參數 Technical parameter

測試空間容積： 50-2250升

高溫室溫度范圍： +60至+200℃

溫度恢復時(shí)間： ≤5min

試驗室溫度范圍： -72至+180℃

低溫室溫度： -80至-10℃

噪 音： 56-63 dB(A)